時間:2013-09-12 21:32　來源:正航儀器　作者:網(wǎng)絡(luò)工作組　

溫度試驗
我國地域廣大，決定了我們的電子元器件被使用的地域范圍很廣。寬廣的地域溫度 及溫度變化的差別大，因此必須進行電子元器件的溫度試驗。根據(jù)溫度環(huán)境的不同，溫度 試驗包括高溫試驗、低溫試驗、熱循環(huán)試驗、熱沖擊試驗和熱性能試驗等五種。
1.低溫試驗
根據(jù)氣象記載，我國極端的氣溫或地溫低于一55°C的幾乎沒有。故無論使用、運 輸或儲存，一55t：已能滿足要求了。當然還需要考慮到一些特殊環(huán)境及我國的電子產(chǎn)品 不局限于在國內(nèi)陸地上使用。

低溫試驗的原理及程序如下。
試驗?zāi)康?br /> 低溫試驗的目的是考核低溫對電子元器件的影響，確定電子元器件在低溫條件下工 作和儲存的適應(yīng)性。例如，半導(dǎo)體器件在低溫條件下能否正常工作,在低溫作用后是否有 機械損傷和電參數(shù)變化的情況,以及在低溫儲存的條件下,保持性能的能力等。
試驗原理
低溫下會使電子元器件的電參數(shù)發(fā)生變化、材料變脆及零件材料冷縮產(chǎn)生應(yīng)力等。使電子元器件處于低溫環(huán)境下一定時間,考核電子元器件的電參數(shù)是否發(fā)生變化、材料是否變脆、零件材料冷縮產(chǎn)生應(yīng)力有多大等，從而確定電子元器件的抗低溫能力。
試驗設(shè)備
試驗設(shè)備主要有低溫箱(低溫室)和溫度計。低溫箱或低溫室提供一定的低溫場所 (環(huán)境）;溫度計用于測量和監(jiān)控試驗溫度。試驗設(shè)備還要有測量電性能參數(shù)的電測量系
(4)試驗程序和方法
①初始測量：將試驗樣品放置在正常大氣條件下，使之達到溫度穩(wěn)定。然后按有關(guān)標準規(guī)定對試樣進行電性能、機械性能及外觀檢查。
②試驗：按有關(guān)標準規(guī)定,選定試驗的低溫等級，確定低溫溫度及低溫作用時間，采用下述方法之一進行試驗。
③帶溫度沖擊的試驗：先將低溫箱溫度調(diào)到規(guī)定值，再將試驗樣品放入箱內(nèi)；試驗時間從箱溫恢復(fù)到規(guī)定值時算起。
④不帶溫度沖擊的試驗：先將試樣放人箱內(nèi)，再把箱溫調(diào)到規(guī)定值;試驗時間從箱 溫達到規(guī)定值時算起。
⑤試驗過程中是否加負荷：按有關(guān)標準規(guī)定進行。
⑥中間測量：當試樣處于低溫時，按有關(guān)標準規(guī)定對其試樣進行電性能、機械性能 及外觀檢查。
0恢復(fù)：試驗結(jié)束后，將試樣從箱內(nèi)取出。在正常大氣條件下恢復(fù)到冰融解后，抹 去或甩掉試樣上的水滴，然后再恢復(fù)12小時。
⑧最后測量：按有關(guān)標準規(guī)定，對試樣進行電性能、機械性能及外觀檢查。
例如，半導(dǎo)體集成電路總技術(shù)條件中規(guī)定，將一、二類電路分別放在低溫箱中,一類產(chǎn) 品的試驗溫度為(一55士3)t：,二類產(chǎn)品的試驗溫度為（一40士3)C,恒溫時間為30分鐘。 在低溫下測量電參數(shù)，應(yīng)符合產(chǎn)品標準的規(guī)定。
應(yīng)注意的是在低溫試驗中，常因夾具結(jié)冰引起器件外引線與夾具接觸不良，或結(jié)冰漏 電。遇到這種情況，應(yīng)該反復(fù)檢查夾具，使接觸良好,消除結(jié)冰漏電之后,方能測量電參 數(shù)，否則測量結(jié)果不準確。
2.髙溫試驗
高溫試驗簡便、經(jīng)濟，同時對穩(wěn)定器件的電性能有良好的影響。它是有效的篩選手段 之一，所以國內(nèi)外都樂于采用。但是,選擇怎樣的試驗條件才能達到預(yù)期的效果，這是需 要好好研究的。